Article Dans Une Revue
Journal of Electronic Imaging
Année : 2024
Yannick Benezeth : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://ube.hal.science/hal-04909290
Soumis le : jeudi 23 janvier 2025-18:17:53
Dernière modification le : mardi 11 février 2025-03:20:30
Citer
Isaac Wilfried Sanou, Julien Baderot, Stéphanie Bricq, Yannick Benezeth, Franck Marzani, et al.. Deep learning contour-based method for semi-automatic annotation of manufactured objects in electron microscopy images. Journal of Electronic Imaging, 2024, 33 (03), ⟨10.1117/1.JEI.33.3.031204⟩. ⟨hal-04909290⟩
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